반도체 성능 망치는 '숨은 결함' 1000배 더 찾아내는 측정기법 개발

KIAST-IBM 공동연구팀

포토홀 측정을 이용한 전하 수송·트랩 특성 분석 개념도(AI생성 이미지·KAIST 제공) /뉴스1
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