GIST 조용륜 박사 '차세대 반도체 배선 소재 제어 기술' 사이언스 게재

삼성전자 SAIT·美 MIT와 공동연구… '일시적 결정 성장 촉진제'로 탄소 활용

삼성전자 SAIT 임용철· 하윤후 박사· 이영민 연구원, GIST 조용륜 박사(왼쪽부터)(지스트 제공, 재판매 및 DB 금지)/뉴스1

(광주=뉴스1) 조영석 기자 = 광주과학기술원(GIST)은 중앙기기연구소(GIST) 조용륜 박사가 삼성전자 및 미국 매사추세츠공과대학교 연구진과 함께 수행한 연구 논문이 세계적 학술지 '사이언스(Science)'에 게재​됐다고 21일 밝혔다.

미량의 탄소를 '일시적 결정 성장 촉진제'로 활용해 비정질 절연 기판 위에서도 금속 결정의 방향을 정밀하게 정렬하는 기술​을 개발하고, 이를 통해 차세대 반도체 초미세 배선의 전기저항을 크게 낮출 수 있음을 확인한 연구논문이다.

조 박사는 이번 연구에 공동1저자로 참여해 실험 설계와 수행, 투과전자현미경(TEM)을 활용한 실시간 미세구조 분석, 데이터 분석 및 시각화, 연구 결과 해석 등에 기여했다.

조 박사는 "연구는 금속 속 미량 원소를 단순히 제거해야 하는 불순물이 아니라, 결정립의 이동과 정렬을 유도한 뒤 빠져나가는 일시적 촉진제로 활용할 수 있음을 보여줬다"며 "특히 차세대 반도체 배선 소재의 구조와 전기적 성능을 함께 제어할 수 있는 새로운 설계 원리를 제시했다"고 말했다.

연구 결과는 '사이언스'에 지난 13일 온라인으로 게재됐다.

kanjoys@news1.kr